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SPECTROMIDEX偏振能量色散X熒光光譜儀
在工業(yè)及科研領(lǐng)域，經(jīng)常需要對樣品進行非破壞性的元素分析，同時對分析面積及靈敏度具有苛刻的要求，如RoHS分析,貴金屬檢測等。SPECTRO MIDEX X射線熒光能譜儀是為滿足這些要求研制開發(fā)的，并根據(jù)市場要求進行了擴展和優(yōu)化，使SPECTROMIDEX儀器在分析性能和使用靈活性方面獨樹一幟:不僅可對樣品的微小區(qū)域行快速無損的檢定，還可對超大樣品的表面(面積可達EC標(biāo)準(zhǔn)線路板規(guī)格的2倍，233x160mm) 進行元素分布分析。廣泛的適合于ROHS及ELV檢測、珠寶首飾、文物、物證鑒定等。
SPECTROMIDEX獨特的下照式X熒光光譜儀;
■無損分析， 制樣簡單;可分析多種形態(tài)的物質(zhì)，液體、固體、粉末;分析元素范圍廣Na(Be)-U，元素含量范圍寬ppm一100% ；
■多 元素同時分析，速度快;配備CCD攝像系統(tǒng)可以自由定義測試位置;
■可調(diào)X光束， 可輕松應(yīng)對各類樣品;大樣品倉設(shè)計，樣品不用事先拆解;
樣品要求:對樣品要求最低。
